Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
Пожертвування:
63.6% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Мій LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Analytiker-Taschenbuch
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Heinrich Hartkamp (auth.)
,
Dr. Helmut Günzler
,
Prof. Dr. Dr. A. Müfit Bahadir
,
Prof. Dr. Rolf Borsdorf
,
Prof. Dr. Klaus Danzer
,
Prof. Dr. Wilhelm Fresenius
,
Prof. Dr. Rudolf Galensa
,
Dr. Walter Huber
,
Prof. Dr. Ingo Lüderwald
,
Prof. Dr. Georg Schwedt
,
Pro
fiir
abb
z.b
analytik
anwendung
verfahren
bestimmung
tabelle
priifgase
methoden
beimengung
bzw
herstellung
bereich
proben
mub
grundgas
verwendet
k6nnen
iiber
probe
matrix
icp
kupfer
berlin
miissen
temperatur
zink
elektronenmikroskopie
electron
komplexbildner
spectroscopy
weinheim
analysis
konzentration
sowie
bedeutung
eigenschaften
mittels
materialien
vch
serum
springer
abbildung
elektronen
hrsg
daher
verlag
moglich
spektroskopische
Рік:
1996
Мова:
german
Файл:
PDF, 16.77 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 1996
2
Grundlagen der Polarimetrie: Gerätekunde und Meßtechnik
De Gruyter
Johannes Flügge
abb
drehung
optische
optisch
analysator
substanz
polarimeter
lösung
saccharimeter
wellenlänge
polarimetrie
tabelle
daher
polarimetern
polarisator
winkel
linear
optischen
faraday
aktiven
zeiss
plättchen
z.b
quarz
elliptizität
substanzen
messung
photoelektrischen
bzw
konzentration
läßt
skala
schwingung
rotationsdispersion
verfahren
wobei
halbschattenwinkel
abgleich
spezifische
zuckerskala
ergibt
wellenlängen
ellipsometrie
grundlagen
quarzkeil
drehwinkel
spezifischen
beispiel
meßsubstanz
vgl
Рік:
1970
Мова:
german
Файл:
PDF, 18.99 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 1970
3
Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
Deutscher Universitätsverlag
Frank Schröder-Oeynhausen (auth.)
gaas
abbildung
sims
fiir
oxid
ozon
txrf
oberflache
zeigt
oxide
oxidation
oxids
probe
atome
verfahren
charakterisierung
behandlung
sci
aso
konzentration
tiefe
substrat
nachweis
urn
lagerungsdauer
oxidschicht
signale
bzw
oxidierten
scheiben
gao
vergleich
einflub
tiber
quantitative
insbesondere
konzentrationen
aile
arxps
beispielsweise
natiirlichen
sowie
daher
dicke
phasen
lagerungszeit
mass
messungen
passivierender
tiefenverteilung
Рік:
1997
Мова:
german
Файл:
PDF, 4.03 MB
Ваші теги:
0
/
0
german, 1997
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×